Variabilitat depenent del temps per BTI i portadors calents en MOSFETS ultraescalats 

Ayala Cintas, Núria (Date of defense: 2013-09-30)

Durant el treball de tesi s’ha permès ampliar una línia d’investigació al grup de recerca REDEC (Reliability of Electron Device and Circuits) del Departament d’Enginyeria Electrònica de la Universitat Autònoma de Barcelona ...