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Caracterización óptica de capas finas de carbono amorfo hidrogenado mediante elipsometría espectroscópica

Pascual Miralles, Esther (Date of defense: 1991-12-18)

Este trabajo presenta una doble vertiente: por una parte, se ha diseñado y construido un elipsómetro espectral (visible-UV) automático que permite la caracterización óptica de materiales en volumen, en ...

Estructures multicapes basades en el silici amorf i els seus aliatges amb carboni

Bertomeu i Balagueró, Joan (Date of defense: 1993-03-25)

Aquest treball presenta un estudi ampli sobre les estructures multicapa basades en semiconductors amorfs, en concret les formades per silici amorf hidrogenat i els aliatges d'aquest material amb ...

Propiedades vibracionales en el sistema (In,Ga)As

Hernández Márquez, Sergi (Date of defense: 2003-05-29)

Los materiales del sistema (In,Ga)As han presentado un gran interés en los últimos años debido al amplio rango de aplicaciones que presentan como dispositivos optoelectrónicos. La implantación iónica ...

Espectrometría de masas de iones secundarios: aportaciones a la técnica y caracterización de capas finas de a-C:H y de a-Si:H

López Fernández, Francisco (Date of defense: 1993-07-19)

Entre las técnicas microanalíticas, el SIMS ha experimentado un gran éxito en las dos últimas décadas. Su habilidad para proporcionar datos de composición elemental y estructura, su capacidad para ...

Análisis microestructural de materiales fotovoltaicos mediante métodos ópticos y microscopía electrónica

Rojas Tarazona, Fredy E. (Date of defense: 2014-11-14)

Este trabajo se enmarca dentro de la modelización óptica y estructural de capas delgadas semiconductoras, particularmente de óxidos conductores transparentes del tipo ZnO y ZnO:Al, así como de capas ...

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Estructures multicapes basades en el silici amorf i els seus aliatges amb carboni

Propiedades vibracionales en el sistema (In,Ga)As

Espectrometría de masas de iones secundarios: aportaciones a la técnica y caracterización de capas finas de a-C:H y de a-Si:H

Análisis microestructural de materiales fotovoltaicos mediante métodos ópticos y microscopía electrónica

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