Medida de parámetros de ruido de dispositivos activos basada en fuente adaptada 

Maya Sánchez, María del Carmen (Data de defensa: 2003-12-15)

En esta Tesis se utiliza una técnica de fuente adaptada para medir los parámetros de ruido de transistores de efecto campo, como MESFET y HEMT. Para ello, se ha implementado un sistema de medida en el margen de frecuencias ...