Pujolàs Boix, Oriol (Date of defense: 2003-07-22)
El problema de la jerarquía se puede resolver en ciertos modelos de branas debido a<br/>que, en estos modelos, la separación entre la escala electrodébil y la de Planck<br/>depende del tamaño de las ...
Rius Suñé, Gemma (Date of defense: 2008-03-10)
La litografía por haz de electrones (Electron Beam Lithography, EBL) se ha consolidado como una de las técnicas más eficaces que permiten definir motivos en el rango nanométrico. Su implantación ha ...
Amgarou, Khalil (Date of defense: 2002-04-19)
En este trabajo, hemos establecido una nueva aproximación para determinar el factor de equilibrio de los descendientes de 222Rn, durante periodos largos de tiempo y en presencia de 220Rn, utilizando un ...
Rodríguez Marrero, Ana Yaiza (Date of defense: 2007-05-18)
Blanqué, Servane (Date of defense: 2004-12-20)
Portell i Bueso, Xavier (Date of defense: 2007-05-23)
El model estandar (ME) és actualment el marc teòric més complet que descriu la física de les partícules elementals. En ell s'hi descriuen les partícules de matèria (fermions) i les seves interaccions ...
Da Rold, Leandro (Date of defense: 2006-06-30)
Los principios de simetría han jugado un rol fundamental en la comprensión de la naturaleza. Sin embargo en general las simetrías no son exactas, sino que están rotas. El estudio de mecanismos de ruptura ...