Universitat de Barcelona
Now showing items 1-10 of 10
1. INTRODUCCIÓN: <br/><br/>SPECT ("Single Photon Emission Computed Tomography" - Tomografía Computerizada por Emisión de Fotón Único) es una técnica de la Medicina Nuclear en la que se obtiene una ...
Los objetivos del trabajo son, en primer lugar, analizar las limitaciones que presenta la correlación monocanal para tratar con problemas complejos de reconocimiento de imágenes. Con este propósito se ...
Entre las técnicas microanalíticas, el SIMS ha experimentado un gran éxito en las dos últimas décadas. Su habilidad para proporcionar datos de composición elemental y estructura, su capacidad para ...
Aquest treball presenta un estudi ampli sobre les estructures multicapa basades en semiconductors amorfs, en concret les formades per silici amorf hidrogenat i els aliatges d'aquest material amb ...
Este trabajo se inscribe en el ámbito del reconocimiento óptico de objetos o, en un marco más amplio, del procesado óptico de la información. El objetivo es, dado un cierto motivo a detectar, determinar ...
Este trabajo presenta una doble vertiente: por una parte, se ha diseñado y construido un elipsómetro espectral (visible-UV) automático que permite la caracterización óptica de materiales en volumen, en ...
Theoretical methods to compute accurate x-ray spectra emitted from targets bombarded with kV electrons are required for quantification in Electron Probe Microanalysis (EPMA), especially for the analysis ...
El estudio del crecimiento y de las propiedades constitutivas de los recubrimientos de fosfato de calcio obtenidos mediante ablación con láser ha permitido buscar las condiciones de depósito óptimas ...
La memoria presentada aborda la problemática de las células solares basadas en el silicio amorfo hidrogenado (a-Si: H), tanto desde el punto de vista experimental (obtención y caracterización) como desde ...
In the last decade transmission electron microscopy (TEM) has become one of the most powerful tools for the structural characterization of crystalline materials. Especially in the field of microelectronics ...
