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Bertomeu i Balagueró, Joan (Fecha de defensa: 1993-03-25)
Aquest treball presenta un estudi ampli sobre les estructures multicapa basades en semiconductors amorfs, en concret les formades per silici amorf hidrogenat i els aliatges d'aquest material amb ...
Pascual Miralles, Esther (Fecha de defensa: 1991-12-18)
Este trabajo presenta una doble vertiente: por una parte, se ha diseñado y construido un elipsómetro espectral (visible-UV) automático que permite la caracterización óptica de materiales en volumen, en ...