Mostrando ítems 1-2 de 2
López Fernández, Francisco (Fecha de defensa: 1993-07-19)
Entre las técnicas microanalíticas, el SIMS ha experimentado un gran éxito en las dos últimas décadas. Su habilidad para proporcionar datos de composición elemental y estructura, su capacidad para ...
Bertomeu i Balagueró, Joan (Fecha de defensa: 1993-03-25)
Aquest treball presenta un estudi ampli sobre les estructures multicapa basades en semiconductors amorfs, en concret les formades per silici amorf hidrogenat i els aliatges d'aquest material amb ...